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电性能测试技术
FCT 功能全测、AOI 视觉自动化、Born-in 老化测试，覆盖率达 100%。红外/光学成像检测、RGB 视觉外观识别、激光光纤精密扫描，多工况下缺陷自动分拣。
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温度测试系统
恒温恒压环境控制，-40℃ ~ 150℃ 宽温域覆盖，温控精度 ±1℃ 高稳定性。冷 / 热干燥风淋杜绝低温凝霜结水，保障三温测试可靠性。
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视觉技术
定制视觉系统可检测元件 6 个面的特征信息与缺陷状态。覆盖数码管、LED、屏幕显示及关键物料检测，AOI 自动化识别率达行业领先水平。
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自研 ATE 测试软件
标准开放式平台支持自定义测试流程与报表格式。拥有成熟驱动库二次开发实力，覆盖压测、功能、老化、运动控制采集、视觉定位五大方向。
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半导体分选（Handler）
变距多吸嘴、抱 Tray 机构与高速 PPU 机械手协同，实现多颗芯片精准取放与并行测试。定位精度 ≤0.02mm，导正转向精度 ≤20arcsec。
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级联式智能产线
以智能调度系统与复合机器人为核心，多设备自由拼接、同类型级联重复，灵活适配不同封测工艺，显著提升整体 UPH 与良率。